קובץ:AFMsetup.jpg
AFMsetup.jpg (721 × 569 פיקסלים, גודל הקובץ: 86 ק"ב, סוג MIME: image/jpeg)
היסטוריית הקובץ
ניתן ללחוץ על תאריך/שעה כדי לראות את הקובץ כפי שנראה באותו זמן.
תאריך/שעה | תמונה ממוזערת | ממדים | משתמש | הערה | |
---|---|---|---|---|---|
נוכחית | 17:10, 21 בנובמבר 2006 | 569 × 721 (86 ק"ב) | KristianMolhave | *Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made |
שימוש בקובץ
הדפים הבאים משתמשים בקובץ הזה:
שימוש גלובלי בקובץ
אתרי הוויקי השונים הבאים משתמשים בקובץ זה:
- שימוש באתר ast.wikipedia.org
- שימוש באתר bg.wikipedia.org
- שימוש באתר bs.wikipedia.org
- שימוש באתר ca.wikipedia.org
- שימוש באתר da.wikipedia.org
- שימוש באתר en.wikipedia.org
- Microscope
- Nanotechnology
- Scanning tunneling microscope
- Atomic force microscopy
- Scanning probe microscopy
- Scanning voltage microscopy
- Millipede memory
- Electrochemical scanning tunneling microscope
- Dip-pen nanolithography
- Magnetic force microscope
- Kelvin probe force microscope
- Near-field scanning optical microscope
- Scanning gate microscopy
- Magnetic resonance force microscopy
- Electrostatic force microscope
- Scanning ion-conductance microscopy
- Scanning probe lithography
- Spin-polarized scanning tunneling microscopy
- Feature-oriented scanning
- Feature-oriented positioning
- Counter-scanning
- User:Antony-22/Navboxes
- Template:Scanning probe microscopy
- Scanning capacitance microscopy
- Scanning Hall probe microscope
- Photothermal microspectroscopy
- Ballistic electron emission microscopy
- User:Bci2
- Chemical force microscopy
- Scanning SQUID microscopy
- Scanning thermal microscopy
- User:Bci2/Books/Wk1Book
- User:Bci2/Books/Wk2Book
- User:Bci2/Books/Wk3vol1
- User:Bci2/Books/Wk4
- Local oxidation nanolithography
- Conductive atomic force microscopy
- Piezoresponse force microscopy
- Scanning joule expansion microscopy
- User:GERphysicist/Synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
- Photoconductive atomic force microscopy