Русский: Приведено трехмерное АСМ изображение торца полупроводниковой пластины со сверхрешеткой (слева) и соответствующее распределение поверхностного потенциала (справа). Сверхрешетка представляет собой чередующиеся слои 40% AlGaAs/GaAs на подложке арсенида галлия.
Изображения получены с помощью атомно-силового микроскопа SmartSPM, AIST-NT.
Для визуализации поверхностного потенциала использован метод зонда Кельвина.
English: 3D AFM image of the end of the wafer with a superlattice (left) and the corresponding distribution of the surface potential (right). A superlattice is formed by alternating layers of 40% AlGaAs / GaAs on a GaAs substrate. Images obtained by atomic force microscope SmartSPM, AIST-NT. To visualize the surface potential we used Kelvin probe force microscopy.
ייחוס – יש לתת ייחוס הולם, לתת קישור לרישיון, ולציין אם נעשו שינויים. אפשר לעשות את זה בכל צורה סבירה, אבל לא בשום צורה שמשתמע ממנה שמעניק הרישיון תומך בך או בשימוש שלך.
שיתוף זהה – אם תיצרו רמיקס, תשנו, או תבנו על החומר, חובה עליכם להפיץ את התרומות שלך לפי תנאי רישיון זהה או תואם למקור.