קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן

מתוך ויקיפדיה, האנציקלופדיה החופשית
קפיצה אל: ניווט, חיפוש
דוגמה לתבנית עקיפה של קרני רנטגן שעברו דרך גביש

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגןאנגלית: X-ray crystallography) או עקיפה של קרני רנטגן (באנגלית: X-ray diffraction) היא תחום מחקר שעוסק במציאת מבנה של גבישים, תוך שימוש במדידת התבניות שיוצרות קרני רנטגן לאחר שהן עוברות דרכם. הקרניים עוברות עקיפה בתוך הגביש כתוצאה מהאינטראקציה שלהן עם האטומים, והן משנות את כיוון תנועתן. תבנית ההתאבכות הנוצרת מרמזת על המבנה הפנימי של החומר. באופן זה, השיטה מסייעת לקביעת מבנים מולקולריים ביצורים החיים, תוך הקניית ידע מבני על אתרים פעילים של אנזימים.

קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן, בשיטות שלא השתנו הרבה מאז תחילת המאה העשרים, מהווה עד היום כלי מרכזי במדע הקריסטלוגרפיה. השיטה איפשרה תגליות רבות ומשמעותיות, למשל גילוי מבנה ה-DNA. אחד הצילומים הידועים ביותר שנעשה בשיטה זו הוא תצלום 51, צילום של DNA שהיה הגורם המכריע בגילוי המבנה שלו ונעשה על ידי רוזלינד פרנקלין בסוף 1952. חקר מבנהו ופעולתו של הריבוזום, עליו ניתן פרס נובל לכימיה לשנת 2009, נעשה אף הוא באמצעות קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן.

קישורים חיצוניים[עריכת קוד מקור | עריכה]

P physics.svg ערך זה הוא קצרמר בנושא פיזיקה. אתם מוזמנים לתרום לוויקיפדיה ולהרחיב אותו.