תאודוליט

מתוך ויקיפדיה, האנציקלופדיה החופשית
תאודוליט

תאודוליט הוא מכשיר מדידה המשמש למדידת זוויות, הזווית בין קו ראייה לבין מישור אופקי והזווית בין שני קווי ראייה מאותה נקודה. התאודוליט מורכב ממשקפת המורכבת על ציר אנכי וציר אופקי המאפשרות למשקפת לנוע ושנתות המציינות את הזווית של המשקפת יחסית לנקודת מוצא.

התאודוליט משמש בעיקר מודדים המשתמשים בו בשלבי התכנון והבקרה של פרויקטים הנדסיים וכמו כן, למדידת רשתות טריאנגולציה, מיפוי ומדידות קדסטרליות.

לתאודוליט רמת דיוק של מספר שניות קשת (1/3600 המעלה) ועל כן בחישוב הפרשי גובה הוא מגיע לדיוק של סנטימטרים בודדים, בעוד מאזנת מדויקת יכולה להגיע לדיוק של מילימטרים ואף עשיריות המילימטר. יתרונותיו של התאודוליט על פני המאזנת הוא שניתן למדוד בעזרתו זוויות אופקיות. וכן שאין צורך למקם בנקודה הנמדדת (כלומר בנקודה שיש למדוד את הנתונים שלה) שום כלי עזר. בניגוד למדידה במאזנת, בה יש למקם אמה (לטה) בנקודה הנמדדת.

מבנה התאודוליט[עריכת קוד מקור | עריכה]

התאודוליט מורכב ממשקפת המורכבת על ציר אנכי וציר אופקי המאפשרות למשקפת לנוע ושנתות המציינות את הזווית של המשקפת יחסית לנקודת מוצא. הצירים מאפשרים למשקפת לבצע סיבוב שלם, אופקי או אנכי. השנתות מציינות את הזוויות במעלות או בגראד. לרוב התאודוליטים יש שני מצבים הנקראים פנים. שני המצבים מציינים את מיקום ציר הראייה ביחס לציר האנכי של המכשיר. כאשר הכיוונים האנכיים אותם קוראים במכשיר נעים בין 0° ל-180° מצב זה נקרא פנים שמאל וכאשר הכיוונים נעים בין 180° ל-360° מצב זה נקרא פנים ימין.

התאודוליט מורכב משלדה קשיחה העשויה ממתכת או מפלסטיק קשיח.

אופן השימוש בתאודוליט[עריכת קוד מקור | עריכה]

התאודוליט מורכב בדרך כלל על גבי חצובה על ידי מרכוז כפוי באמצעות הטריברך. המכשיר ממורכז כך שימוקם במדויק מעל נקודת המדידה ולאחר מכן, המכשיר מאוזן בעזרת הפלס המורכב על התאודוליט כך שצירו האנכי יתלכד עם כיוון כח הכבידה. תהליך המירכוז והאיזון של התאודוליט מבוצע בהתקרבויות עד שהמכשיר ממורכז ומאוזן מעל נקודת המדידה. לאחר מרכוז ואיזון המשקפת, מכוונות שנתות הזוויות לאפס.

מדידת זווית אנכית נעשית על ידי כיוון המשקפת אל מטרה וקריאה על השנתות את הזווית בין קו הראייה למטרה לבין המישור האנכי אליו אופסו השנתות. לקבלת זווית הגובה, כלומר הזווית יחסית למישור האופקי, מחסירים או מוסיפים 90° או 270°.

מדידת זווית אופקיות בין קווי הראייה לשתי מטרות נעשית על ידי כיוון המשקפת לעבר המטרה הראשונה כך שצלבי המכשיר הנראים במשקפת יתלכדו עם המטרה וקריאת הזווית האופקית על השנתות. לאחר מכן, מכוון המשקפת אל המטרה השנייה ושוב קוראים את הזווית האופקית על השנתות. ההפרש בין שתי הקריאות של הזווית האופקית היא הזווית בין קווי הראייה לשתי המטרות מנקודת המדידה. יש לשים לב שבעת החסרת הכיוונים ניתן לקבל את הזווית הרצויה או את הזווית המשלימה לה.

ראו גם[עריכת קוד מקור | עריכה]

קישורים חיצוניים[עריכת קוד מקור | עריכה]