לדלג לתוכן

הבדלים בין גרסאות בדף "תכליל (מינרלוגיה)"

מ
אין תקציר עריכה
מ (בוט החלפות: פלואורסצנט)
מ
[[תמונהקובץ:QuartzHametite1-2.JPG|שמאל|ממוזער|250px|<divתכלילי style="text-align:[[המטיט]] בגביש center;">[[קוורץ]]]]
תכלילי [[המטיט]] בגביש [[קוורץ]]
</div>]]
'''תכליל''' הוא אי-סדירות נראית - חומר או מבנה המצוי בתוך חומר טבעי, ב[[גביש]] של [[מינרל]] או ב[[סלע]] ואינו מרכיב יסודי שלו. תכליל יכול להיות: גביש של [[מינרל]] אחר, [[גז]] ו[[נוזל]], או פגם כגון סדק, שבר או חוסר רציפות בצמיחה.
 
 
==חקר התכלילים==
[[תמונהקובץ:SandCrystalWooster.jpg|ממוזער|]]
מדענים רבים רותקו על ידי התכלילים אותם ראו בגבישים.
 
* עקיפת קרני רנטגן באבקה - בשיטה זו נדרשת כמות קטנה של אבקת תכליל מוצק. אם התכליל אינו נמצא על פני השטח של הגביש, יש לחשוף אותו ולגרדו באמצעות פצירת [[יהלום|יהלומים]] או חוד של גביש יהלום. בדרך זו, מאחר שיהלום [[קשיות|קשה]] ואינו נשרט, אין מכשיר הגירוד מוסיף מרכיבים משלו לאבקה. האבקה משמשת ליצירת צילום [[קרני רנטגן|רנטגן]] בדיפרקטומטר אבקה (powder diffractometer). דפוסי העקיפה המתקבלים מושווים לדפוסים ידועים. חסרונה של השיטה היא התאמתה לחומרים מוצקים בלבד.
 
* אלומת אלקטרונים - כאשר תכליל מוצק חשוף על פני השטח, ניתן להשתמש ב[[מיקרוסקופ אלקטרוני#מיקרוסקופ אלקטרוני סורק|מיקרוסקופ אלקטרוני סורק]] (SEM) בצמוד ל[[מיקרוסקופ אלקטרוני]] (EMP). בדרך זו נוצרות קרני רנטגן המייצגות את [[אורך גל|אורכי הגל]] של ה[[יסוד (כימיה)|יסודות]] המרכיבים את התכליל. [[קרינה פלואורסצנטית]] ניתן לנתח באמצעות מערכת לפיזור אנרגיה (EDS) צמודה למיקרוסקופ אלקטרוני או למיקרוסקופ האלקטרוני הסורק, ואת ה[[ספקטרום]] המתקבל ניתן להמיר להרכב הכימי של הדגימה. לשימוש ב-SEM יש יתרון ביכולתו להגדיל את השטח הנבדק ולהפיק תמונות שלו, בעוד ה-EMP משמש בעיקר לכימות אנליזה כימית. שתי השיטות אינן הרסניות לדגימה אך הן מתקשות לזהות יסודות קלים.
 
* ספקטרוסקופיית לייזר רמאן (Raman laser spectroscopy) – אלומת [[לייזר]] [[מונוכרומטיות|מונוכרומטית]] ממוקדת בתכליל, וכאשר היא פוגעת ב[[מולקולה|מולקולות]] החומר, משתנה [[אורך גל|אורך הגל]] של חלק מה[[פוטון|פוטונים]], בהתאם לחומר הנבדק. כאשר ה[[אור]] פוגע בחומר הוא מעורר את ה[[אטום|אטומים]] המרכיבים אותו, וחלק מהפוטונים הנפלטים פליטה משנית, עוברים הסחה לאורכי גל קצרים או ארוכים יותר. את ההסחה ניתן למדוד דרך בדיקה ב[[מונוכרומטור]] של אורכי הגל הנפלטים. מידת ההסחה פרופורציונית ל[[רמות אנרגיה|רמות האנרגיה]] של החומר, ומאפשרת את זיהויו בהשוואה לדפוסים ידועים. היתרון בשימוש בשיטה זו היא התאמתה לחומרים בכל [[מצב צבירה]].
 
==סוגי תכלילים==
[[תמונהקובץ:Inclusions1.jpg|שמאל|ממוזער|200px|<div style="text-align: center;">תכלילים]]
תכלילים
</div>]]
 
===תכלילים פרוטוגנטיים===
סוג זה של תכלילים נוצר לפני התגבשות האבן, חלקם נוצרו בסביבת ההתגבשות ואחרים הגיעו לשם בדרכים שונות (סחף, רוח) או אף נוצרו מאותה תמיסה ממנה התגבשה האבן.
 
* מוטות - חדירה של [[מינרל|מינרלים]]ים אחרים היוצרת צורת מוטות. לדוגמה: מוטות [[טורמלין]] בעלי חתך משולש ומוטות [[רוטיל]] ו[[טרמוליט]] ב[[ברקת]].
 
* אלומות דשא – מוטות קצרים ב[[ברקת]]
 
===תכלילים סינגנטיים===
[[תמונהקובץ:6fluorite-douglass95.jpg|שמאל|ממוזער|250px|<div[[איזור style="text-align:(גאולוגיה)|אִיזוּר]] center;">ב[[פלואוריט]]]]
[[איזור (גאולוגיה)|אִיזוּר]] ב[[פלואוריט]]
</div>]]
 
סוג זה של תכלילים נוצרו ביחד עם האבן, בשלבים שונים של התגבשותה ובדרך כלל יש להם קשר מינרלוגי אמיץ לאבן. תכלילים אלה מסודרים בסדר סימטרי מסוים המקביל לסדר התגבשות האבן.
 
===תכלילים אפיגנטיים===
[[תמונהקובץ:QuartzRutil2-2.JPG|שמאל|ממוזער|250px|<divסיכות style="text-align:[[רוטיל]] בגביש center;">[[קוורץ]]]]
סיכות [[רוטיל]] בגביש [[קוורץ]]
</div>]]
 
סוג זה של תכלילים נוצרו באבן לאחר השלמת ההתגבשות או שהם מכילים חומרים שנלכדו באבן בשלבים קודמים ועברו תהליכים מסוימים לאחר גמר ההתגבשות.